巻　頭　言 (Vol.61 No.7)

X線材料強度小特集号の刊行にあたって
秋庭義明	597

論　　文 (Vol.61 No.7)

六方晶AlN薄膜の膜性状と強度特性評価
秋庭義明・渡邊拓也	598
中性子回折法による溶接残留応力測定精度に関する考察　−無ひずみ状態の格子定数の影響−
鈴木裕士・秋田貢一	604
高エネルギー放射光を用いた強加工層極表面近傍での残留応力測定と組織変化挙動の考察
橋本匡史・菖蒲敬久・望月正人	612
回折プロファイルに及ぼすX線照射領域内のひずみ分布の影響
秋庭義明・天野雅大	620
Analｙsis of Stress-Strain Relationships and Line Broadening in Polycrystalline Materials Having Tetragonal Crystal System with [001] Fibre Texture by X-Ray Diffraction
横山亮一	627